Nanopartikül transmisyon elektron mikroskobu (TEM), nano ölçekli parçacıkların ve malzemelerin yapısını ve morfolojisini gözlemlemek ve karakterize etmek için yaygın olarak kullanılan önemli bir mikroskopi tekniğidir.
TEM, numunenin mikroskobik ayrıntılarını ince dilimler halinde gözlemlemek için yüksek enerjili elektron ışınlarını kullanır. TEM'de elektron ışını bir mercek sistemi aracılığıyla odaklanır ve daha sonra numunenin içinden geçerek numunedeki atomlar veya moleküller ile etkileşime girer. İletilen elektron ışını hakkında bilgi toplayarak numunenin yüksek çözünürlüklü görüntüleri ve kırınım desenleri elde edilebilir, böylece iç yapısı ve bileşimi ortaya çıkarılabilir.
Örnekleri test etmek için TEM kullanmanın genel adımları şunlardır:
1. Numune hazırlama: Öncelikle test edilecek numunenin yeterince ince numune dilimleri halinde hazırlanması gerekir. Yaygın hazırlama yöntemleri arasında mekanik dilimleme, iyon öğütme, santrifüjlü biriktirme ve odaklanmış iyon ışını (FIB) kesme yer alır.
2. Numune yükleme: Hazırlanan numune dilimlerini TEM numune taşıyıcısına yerleştirin ve sabitlenmesini ve stabilitesini sağlayın.
3. Cihaz ayarları: TEM için gereken hızlanma voltajı, odaklanma ve hizalama fonksiyonları gibi parametreleri ayarlayın. Genellikle gerekli görüntü bilgisini elde etmek için uygun lens ayarlarının ve modlarının seçilmesi gerekir.
4. Gözlem ve ayarlama: Numune tutucuyu TEM cihazına yerleştirin ve numuneyi bir göz merceği veya mikroskop kullanarak gözlemleyin. Uygun büyütme altında numunenin morfolojisinin ve yapısının gereksinimleri karşılayıp karşılamadığını gözlemleyin ve gerektiği şekilde ayarlayıp optimize edin.
5. Görüntü yakalama: TEM sistemi aracılığıyla numunenin yüksek çözünürlüklü görüntülerini yakalamak için uygun lens ayarlarını ve pozlama süresini seçin. Daha kapsamlı bilgi elde etmek için farklı bölge ve açılardan görüntüler toplanabilir.
6. Veri analizi: Parçacık boyutu, yüzey morfolojisi, kristal yapı vb. ölçümü de dahil olmak üzere TEM görüntülerini analiz edin ve yorumlayın. İlgili enerji spektrumu analizi ve kırınım deseni analizi, element bileşimi ve kristal yapısı hakkında bilgi elde etmek için de yapılabilir.
TEM, nanopartikülleri, nanomalzemeleri, nanoyapıları ve daha fazlasını incelemek için yaygın olarak kullanılan yüksek çözünürlüklü bir mikroskopi tekniğidir. Malzemelerin yapısal özelliklerinin, nanopartiküllerin morfolojisinin ve bileşiminin anlaşılmasında ve nano ölçekli olayların incelenmesinde önemli bir rol oynayarak nano ölçekte ayrıntılı gözlem ve analiz sağlayabilir.
