Bileşimini analiz etmek için yaygın olarak kullanılan tespit araçlarınanomalzemelerkatmak:
1. ICP (İndüktif Eşleşmiş Plazma): ICP, analitik kimya ve malzeme bilimi alanlarında yaygın olarak kullanılan bir teknolojidir. Nanomalzemelerdeki elementlerin içeriğini ve bileşimini belirlemek için kullanılabilir. Numuneyi gaz halindeki iyonlara dönüştürerek ve elementlerin konsantrasyonunu belirlemek için oluşturulan plazma spektrumunu kullanarak. ICP-MS (İndüktif Eşleşmiş Plazma Kütle Spektrometresi), nanomalzemelerdeki son derece düşük element konsantrasyonlarını analiz etmek için ICP ve kütle spektrometri tekniklerini birleştirir.
2. XRF (X-ışını Floroskopisi): XRF, malzeme analizi ve tahribatsız muayene için yaygın olarak kullanılan bir teknolojidir. Numunenin yüzeyini veya içini X ışınlarıyla ışınlayarak ve numunedeki eleman özelliklerinin floresans radyasyonunu ölçerek elementlerin bileşimini belirler. XRF, katı, sıvı ve toz numuneler dahil olmak üzere çeşitli nanomalzemeler için uygundur.
3. EDS (Enerji Dağılımlı X-ışını Spektroskopisi): EDS, malzemedeki numune ile elektron ışını arasındaki etkileşimle üretilen X ışınlarını ölçerek bir numunedeki elementlerin bileşimini belirleyen bir elektron mikroskobu tekniğidir. EDS genellikle nanomalzemelerin yüzey kompozisyon analizini sağlamak için taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile birlikte kullanılır.
