Transmisyon Elektron Mikroskopisi (TEM)malzeme bilimi ve nanoteknoloji gibi alanlarda vazgeçilmez bir araştırma aracıdır. TEM'de yeni olan araştırmacılar için, temel ilkelerini ve operasyonlarını anlamak, bu ekipmanın verimli kullanımı için çok önemlidir. TEM testi esas olarak eleman dağılımı, faz bileşimi, kristal kusurları, vb. Dahil olmak üzere malzemelerin mikroyapı özelliklerine odaklanır. Bu özellikler, farklı faz tanelerinin boyutu, şekli, dağılımı ve kristal kusurların yoğunluğu ve dağılımı olarak mikroskobik düzeyde kendini gösterir. TEM aracılığıyla, araştırmacılar malzemelerin iç yapısı hakkında daha derin bir anlayış kazanabilir, böylece özelliklerini ve potansiyel uygulamalarını değerlendirebilirler.
Spektrometreler, X-ışını difraktometreleri, vb. Gibi diğer analitik aletlerle karşılaştırıldığında, TEM'in en büyük avantajı ultra yüksek uzamsal çözünürlüğüdür. TEM sadece malzemelerin element bileşimini tespit edemez, aynı zamanda kristal yapıyı atomik düzeyde analiz ederek yerinde gözlem elde eder. Bu yetenek TEM'i nano ölçekli araştırmalarda yeri doldurulamaz bir araç haline getirir. Test, kimlik, sertifika ve araştırma ve geliştirme hizmetleri sunan üçüncü taraf test ve analiz kurumu olarak Jinjian Laboratuvarı sadece profesyonel bir teknik ekibe sahip olmakla kalmaz, aynı zamanda size doğru TEM test hizmetleri sunmak için gelişmiş test ekipmanlarıyla da donatılmıştır.
TEM'in atom seviyesi yüksek çözünürlük elde etmesinin nedeni, aydınlatma kaynağı olarak son derece kısa dalga boyuna sahip yüksek hızlı bir elektron ışını kullanmasıdır. Sıradan optik mikroskopların çözünürlüğü, aydınlatma ışınının dalga boyu ile sınırlıdır, elektron ışınının dalga boyu görünür ışıktan çok daha kısadır, bu nedenle TEM'in çözünürlüğü geleneksel mikroskoplardan çok daha yüksektir. Ek olarak, elektron ışınlarının dalga parçacık ikiliği, TEM'in malzemelerin atomik düzeyde görüntülemesine ulaşmasını sağlar.
TemelTEM'in yapısı ve işlevi
TEM'in temel yapısı, elektron tabancası, kondenser, numune aşaması, objektif lens, ara ayna ve projeksiyon aynası gibi anahtar bileşenleri içerir. Elektron tabancası, bir kondenser lensle odaklanan yüksek hızlı bir elektron ışını üretir. Numune aşaması numuneyi taşır ve kesin olarak konumlandırır ve objektif lens ve ara ayna, numunenin görüntüsünü daha da büyütür. Projeksiyon aynası büyütülmüş görüntüyü bir floresan ekrana veya dedektöre yansıtır. Bu bileşenlerin işbirlikçi çalışmaları, TEM'in yüksek büyütme görüntüleme ve numunelerin analizini elde etmesini sağlar.
TEM esas olarak üç çalışma modu vardır: büyütme görüntüleme modu, elektron kırınım modu ve tarama iletim modu (STEM). Büyütme görüntüleme modunda TEM, numunenin morfoloji görüntüsünü elde etmek için geleneksel optik mikroskoplara benzer; Elektron kırınım modunda TEM, kristal yapısını yansıtan numunenin kırınım paternini yakalar; STEM modunda TEM, elektron ışını odaklayarak numuneyi noktaya tarar ve daha yüksek çözünürlüklü görüntüleme elde etmek için bir dedektörle sinyaller toplar.
TEM görüntülemedeki farklılıklar: parlak alan görüntüsü, karanlık alan görüntüsü, merkezi karanlık alan görüntüsü
Parlak alan görüntüsü: iletilen ışının yalnızca görüntüleme için objektif diyaframdan geçmesini sağlar ve numunenin genel yapısını görüntüleyin.
Koyu alan görüntüsü ve merkezi karanlık alan görüntüsü: Spesifik kırınım ışınları objektif diyaframdan geçer ve merkezi karanlık alan görüntüsü, kırınım ışınının şanzıman ekseni yönü boyunca, genellikle daha iyi görüntüleme kalitesi ile görüntülenmesini vurgular.
TEM sapmaları, küresel sapma, kromatik sapma ve astigmatizma dahil olmak üzere elektron mikroskoplarının çözünürlüğünü sınırlayan ana faktörlerdir. Küresel sapma, bir manyetik merceğin merkezindeki ve kenar bölgelerindeki elektronların kırılma gücündeki farktan kaynaklanır, kromatik sapma elektron enerjisinin dağılmasından kaynaklanır ve astigmatizma manyetik alanın eksenik olmayan doğası neden olur. Kırınım farkı, açıklıktaki Fraunhofer kırınım etkisinden kaynaklanır.
Kontrast tipi TEM
TEM kontrastı, kalınlık kontrastı, kırınım kontrastı, faz kontrast ve z kontrast dahil olmak üzere elektronlar ve madde arasındaki etkileşim tarafından üretilen saçılma neden olur. Kalınlık kontrastı: Numunenin farklı mikro bölgelerindeki atom sayısı ve kalınlığındaki farklılıklardan kaynaklanan numunenin yüzey özelliklerini ve morfolojik özelliklerini yansıtmak. Kırınım kontrastı: Numune içindeki farklı Bragg koşullarına uygun farklı kristalografik yönelimler nedeniyle, kırınım yoğunluğu bir yerden bir yere değişir. Faz kontrastı: Numune yeterince ince olduğunda, numuneye nüfuz eden elektron ışını dalgasının faz farkı, yüksek çözünürlüklü görüntüleme için uygun olan kontrast üretir. Z-kontrast: STEM modunda, görüntü parlaklığı atom sayısının karesi ile orantılıdır ve eleman dağılımını gözlemlemek için uygundur. Bu temel bilgiye hakim olarak, TEM kullanıcıları bu aracı malzemelerin mikroyapı analizi için daha etkili bir şekilde kullanabilirler.
Sat Nano, Çin'de en iyi nanoparçacık ve mikro parçacık tedarikçisidir, sunabilirizmetal tozu, karbür tozu, oksit tozuVealaşım tozu, herhangi bir sorunuz varsa, lütfen sales03@satnano.com adresinden bizimle iletişime geçmekten çekinmeyin.
